Licht- und Elektronenmikroskop Hand in Hand

Dr.-Ing. Jürgen Heindl

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Zur Bestimmung der technischen Sauberkeit nach VDA 19.1 wird die partikuläre Kontamination von Oberflächen in Filtern aufgesammelt. Hilfreich ist eine Methode, mit der Licht- und Elektronenmikroskop so gekoppelt werden können, dass der Anwender einen umfänglichen Überblick über Art und Ursache der partikulären Kontamination erhält. 

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