Oberflächen tiefergehend betrachtet
Dr. Andreas Schäfer
Für die Analyse von Oberflächen steht eine Reihe von Verfahren zur Verfügung, die je nach Fragestellung ausgewählt und kombiniert werden können. Der vierte Teil unserer Beitragsserie zeigt exemplarisch anhand der Photoelektronenspektroskopie (XPS/ESCA), wie an einer Probe Messungen direkt an der Oberfläche oder auch in größeren Tiefen erfolgen können.