Die Anforderungen an die Sauberkeitsanalyse für Bauteile nehmen stetig zu. Neben der Partikelgröße und -verteilung spielt auch das Wissen darüber eine entscheidende Rolle, aus welchem Material die kritischen Partikel bestehen.
Jetzt am Leica DM4000 M – weiterführende Materialcharakterisierung mittels LIBS (RapID)
Hören Sie dazu den Vortrag "Die Revision der VDA 19 - eine Chance für die Partikelanalyse und ihre Anwender" von Dr. Nicol Ecke am Donnerstag, den 11.06.2015 um 10.30 Uhr im Fachforum der parts2Clean und besuchen Sie uns am Stand D45 in Halle 6!
PS: Unsere Analysensysteme sind konform zur Revision der VDA 19!
Mehr Infos: http://www.leica-microsystems.com/de/produkte/mikroskop-software/mikroskopsoftware-fuer-industrie-und-materialanalyse/details/product/leica-cleanliness-expert/?nlc=20150602-DEWE-9X4AA9
Autor(en): Leica Microsystems