Überprüfen, ob Beschichtungen den vorgeschriebenen Spezifikationen entsprechen und den Ausschuss von Über- oder zu dünnen Beschichtungen minimieren: Das Aufgabenspektrum des Schichtdickenmessgeräts X-Strata920 von Hitachi High-Tech Analytical Science ist groß. Seine Ausstattung wird nun um einen hochauflösenden Detektor (SDD) erweitert. Darüber hinaus verfügt das Gerät jetzt über vier Konfigurationen der Messkammer und Probentische für unterschiedliche Probenformen und -größen, wie zum Beispiel Proben mit komplexen Geometrien in der Automobilindustrie. Im Vergleich zu einem Proportional-Zählrohr kann ein SSD-Detektor bei komplexen Beschichtungsstrukturen Vorteile bieten, da er bei Elementen mit ähnlichen RFA-Eigenschaften, wie bei Nickel und Kupfer, eine einfachere Analyse erlaubt. Damit erweitert sich die Palette analysierbarer Elemente auch um Phosphor, entscheidend für eine Analyse der Schichtdicke im stromlosen Vernickelungsprozess. Zudem sorgt das Gerät für eine genauere Messung dünnerer Beschichtungen wie Gold im Nanometerbereich von IPC-4552A. hha.hitachi-hightech.com/de
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