Schneller optischer 3D-Profiler

Das berührungslose, hochleistungsfähiges 3D-Profiler-Mikroskopsystem wurde speziell für Messungen im Subnano-, Nano- und Mikrobereich entwickelt.
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Ein neues berührungsloses, hochleistungsfähiges 3D-Profiler-Mikroskopsystem, das speziell für Messungen im Subnano-, Nano- und Mikrobereich entwickelt wurde, stellt Sensofar Metrology vor. Das neue Gerät S neox besticht laut Hersteller besonders durch seine Geschwindigkeit. Die Datenerfassung erfolgt mit 180 fps. Die Standard-Messwerterfassung ist 5-mal schneller als bisher und ist besonders für F&E- und Qualitätskontrolllabors geeignet. Der Sensorkopf des S neox ist mit der 3-in-1-Technologie ausgestattet. Die Betriebsarten Konfokal, Interferometrie und die neue Ai-Fokusvariation tragen entscheidend zur Vielseitigkeit des Systems bei. Wichtige Merkmale sind: neue Fokusvariation mit aktiver Beleuchtung (Ai) zur Formmessung großer, rauer Oberflächen; neue Dünnschichtmessung dient zur Ermittlung der Dicke optisch transparenter Schichten in weniger als einer Sekunde; der Differentielle Interferenzkontrast (DIC) wurde zum Hervorheben besonders kleiner Höhenmerkmale hinzugefügt; durch die High Dynamic Range Bildgebung (HDR) werden Reflexion und Drop-Out-Punkte auf stark reflektierenden Oberflächen reduziert. Das S neox wird mit einer intuitiven und benutzerfreundlichen Softwareoberfläche (SensoSCAN 7) für die Steuerung des Systems geliefert sowie mit der neuen Software (SensoView), die ein breites Spektrum an Analysefunktionen bietet.

www.sensofar.com/sneox

Autor(en): Wi

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